Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications

Schnelle Fakten

• Interne Autorenschaft

  Prof. Dr. Michael Karagounis

• Weitere Publizierende

  Alexander Walsemann, Alexander Stanitzki, Dietmar Tutsch

• Veröffentlichung

  • 2024

• Titel des Sammelbands

  Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications

• Titel des Konferenzbands

  19

• Titel der Zeitschrift/Zeitung

  Journal of Instrumentation

• Organisationseinheit

  Elektrotechnik

• Fachgebiete

  • Mikro- und Nanoelektronik

• Forschungsschwerpunkte

  • Learning Chips Lab (LCL)

• Format

  Journalartikel (Artikel)