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Cyber Physical Test System - a novel approach in testing for the Embedded Systems Industry

Schnelle Fakten

  • Interne Autorenschaft

  • Weitere Publizierende

    Peter Schulz

  • Veröffentlichung

    • 2019
  • Sammelband

    Cyber Physical Test System - a novel approach in testing for the Embedded Systems Industry (2019 IEEE AUTOTESTCON)

  • Organisationseinheit

  • Fachgebiete

    • Informatik allgemein
  • Format

    Konferenzpaper

Zitat

P. Schulz and C. Wolff, “Cyber Physical Test System - a novel approach in testing for the Embedded Systems Industry,” in 2019 IEEE AUTOTESTCON, 2019, pp. 1–5.

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