Cyber Physical Test System - a novel approach in testing for the Embedded Systems Industry

Schnelle Fakten

• Interne Autorenschaft

  Prof. Dr. Carsten Wolff

• Weitere Publizierende

  Peter Schulz

• Veröffentlichung

  • 2019

• Titel des Sammelbands

  Cyber Physical Test System - a novel approach in testing for the Embedded Systems Industry

• Titel des Konferenzbands

  2019 IEEE AUTOTESTCON

• Organisationseinheit

  • IDiAL
  • Elektrotechnik
  • Informatik

• Fachgebiete

  • Informatik allgemein

• Format

  Konferenzpaper