Zitat
P. Schulz, N. Sleibi, C. Wolff, and C. Hensen, “Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?,” in 2024 IEEE AUTOTESTCON, 2024, pp. 1–6.
Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?
Schnelle Fakten
Interne Autorenschaft
Weitere Publizierende
Peter Schulz, Noura Sleibi, Christian Hensen
Veröffentlichung
- 2024
- Band 2024 IEEE AUTOTESTCON
Titel des Konferenzbands
2024 IEEE AUTOTESTCON
Organisationseinheit
Fachgebiete
- Informatik allgemein
Format
Konferenzpaper