Zitat
P. Schulz, N. Sleibi, C. Wolff, and C. Hensen, “Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?,” in 2024 IEEE AUTOTESTCON, 2024, pp. 1–6.
Interne Autorenschaft
Weitere Publizierende
Peter Schulz, Noura Sleibi, Christian Hensen
Veröffentlichung
Titel des Konferenzbands
2024 IEEE AUTOTESTCON
Organisationseinheit
Fachgebiete
Format
Konferenzpaper