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Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?

Konferenzpaper

Schnelle Fakten

Interne Autorenschaft
Prof. Dr. Carsten Wolff
Weitere Publizierende
Peter Schulz, Noura Sleibi, Christian Hensen
Veröffentlichung
- 2024
Publikationszweck
Forschung
Organisationseinheit
IDiAL
Fachgebiete
- Informatik allgemein
Forschungsfeld
- Intelligente Produktion

Zitat

P. Schulz, N. Sleibi, C. Wolff, and C. Hensen, “Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?,” in 2024 IEEE AUTOTESTCON, New York, NY: IEEE, 2024, pp. 1–6. doi: 10.1109/autotestcon47465.2024.10697501

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DOI 10.1109/autotestcon47465.2024.10697501

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